節(jié)能型高低溫低氣壓試驗(yàn)箱是主要用于航空、航天、電子、國防、科研和其它工業(yè)部門確 定電工的電子科技產(chǎn)品（包括元器件、材料和儀器儀表）。在高低溫低氣壓單項(xiàng)或 同時(shí)作用下，進(jìn)行貯存運(yùn)輸可靠性試驗(yàn)，并可同時(shí)對試件通電進(jìn)行電氣性能參數(shù)的測試。

技術(shù)特點(diǎn)

??節(jié)能設(shè)計(jì) 采用 PID+PWM 原理的 VRF（制冷劑流量控制）技術(shù)實(shí)現(xiàn)低溫節(jié)能運(yùn)行配備冷控 制 PID 自動(dòng)調(diào)節(jié)技術(shù)（在線性降溫和低溫恒溫過程中，通過冷控制 PID 調(diào)節(jié)制冷輸 出量達(dá)到溫度平衡,即制冷不制熱、制熱不制冷的“冷平衡"技術(shù)）。 采用該模式的設(shè)計(jì)相較于傳統(tǒng)冷熱平衡模式可節(jié)能 30%以上，具體設(shè)計(jì)方案詳 見第 8.7、8.8 條。 

? 壓力控制 設(shè)備壓力控制采用電動(dòng)比例閥，根據(jù)壓力設(shè)定值與測量值自動(dòng)調(diào)整比例閥開度， 以保持壓力穩(wěn)定。 電動(dòng)比例閥可根據(jù)試驗(yàn)需求進(jìn)行壓力線性變化試驗(yàn)。

? 送風(fēng)裝置 設(shè)備出風(fēng)口安裝雙層式可調(diào)百葉窗，可根據(jù) 9 點(diǎn)實(shí)測的溫度調(diào)整箱內(nèi)風(fēng)量分配， 以實(shí)現(xiàn)較高的溫度均勻度和偏差。

滿足測試標(biāo)準(zhǔn)

GB/T 2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第 2 部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn) A：低溫

GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第 2 部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn) B：高溫

GB/T 2423.21-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第 2 部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn) M：低氣壓

GB/T 2423.25-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第 2 部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn) Z/AM：低溫/ 低氣壓 

GB/T 2423.26-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第 2 部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn) Z/BM：高溫/ 低氣壓

GJB 150.2A-2009 裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法 第 2 部分：低氣壓試驗(yàn)

GJB 150.3A-2009 裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法 第 3 部分：高溫試驗(yàn) 

GJB 150.4A-2009 裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法 第 4 部分：低溫試驗(yàn) 

GB/T 10592-2008 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

GB/T 10590-2008 高低溫低氣壓試驗(yàn)箱技術(shù)條件 

GB/T 5170.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 溫度試驗(yàn)設(shè)備

GB/T 5170.10-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 高低溫低氣壓試驗(yàn)設(shè)備

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